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고정밀 온도 센서, 온도 제어 정확도는 ± 0.5 ° C에 도달 할 수 있습니다. 열 챔버는-70 ° C에서 150 ° C까지 매우 넓은 온도 범위를 커버 할 수 있습니다.
열 챔버는 온도 변화의 점진적이고 즉각적인 프로세스를 포함하는 빠른 온도 변화 하에서 테스트 조각의 성능을 평가하여 제품이 반복적 인 가열 및 냉각 프로세스를 수행 할 수있게합니다. 전자 제품 테스트에서 시뮬레이션 된 제품은 추운 밤 환경에서 고온 환경까지 하루에 태양에 노출 된 다음 사이클을 사용하여 신뢰성을 테스트합니다. 이 빈번한 온도 변화에 따라 제품의 안정성과 내구성, 제품에 성능 저하, 재료 변형 또는 손상이 있는지 확인하십시오.
따라서, 열 챔버는 열 사이클 챔버 및 열 충격 챔버를 포함한다. 열 사이클 챔버의 온도 범위는-20 ° C, -40 ° C, -70 ° C (3 옵션) ± 2 ° C 균일 성을 가진 150 ° C에 온도 상승 및 낙하 속도는 5 ° C/min, -70 ° C (3 옵션) ± 2 ° C의 균일 성을 가진 150 ° C에 온도 상승 및 하강 속도는 5 ° C/min, 10 ° C/min 이상입니다. 열 충격 챔버의 상한 및 하한 온도는 각각 220 ° C 및-75 ° C입니다.
열 챔버의 응용 분야는 항공 우주, 전자, 의학, 재료, 식품 및 기타 산업을 포괄하며 응용 방법은 매우 넓습니다.
휴대 전화, 컴퓨터, 칩 및 커패시터, 저항 및 트랜지스터와 같은 전자 부품과 같은 전자 제품은 고온 및 저온 사이클 또는 급속한 온도 충격 하에서 성능을 테스트하는 데 사용되는 것으로 평가됩니다.
부품 테스트: 자동차 엔진, 기어 박스, 브레이크 시스템 및 기타 부품, 극한의 온도 변화 하에서 작업 환경을 시뮬레이션하고 내구성과 신뢰성을 테스트합니다.
차량 성능 평가: 콜드 스타트 테스트, 고온 주행 테스트 등
열 챔버는 높은 고도에서 비행 할 때 빠른 온도 변화를 시뮬레이션하고 부품의 내열성, 내한성 및 열 충격 저항을 확인하고 비행 안전을 보장합니다.
고온 및 저온 사이클링 또는 열 충격 하에서 재료의 기계적 특성, 열적 특성 및 전기적 특성은 열 챔버에서 연구 할 수 있으며 새로운 재료의 개발 및 적용에 대한 이론적 지원을 제공합니다.
저장 및 운송 중 약물, 생물학적 샘플 보존은 온도 변화 하에서 약물의 안정성, 만료일 및 활성을 테스트합니다.
다른 온도 환경에서 성능과 수명을 평가하기 위해 리튬 배터리 및 태양 전지와 같은 새로운 에너지 제품의 온도 사이클 테스트 및 열 충격 테스트.
고정밀 온도 센서, 온도 제어 정확도는 ± 0.5 ° C에 도달 할 수 있습니다. 열 챔버는-70 ° C에서 150 ° C까지 매우 넓은 온도 범위를 커버 할 수 있습니다.
열 충격 챔버의 표본은 3 초 이내에 220 ° C에서-75 ° C로 진행되며 열 사이클 챔버는 몇 분 내에 넓은 온도 사이클을 완료하여 테스트 사이클을 크게 단축 할 수 있습니다.
내장 고정밀 데이터 수집 장비, 실시간 기록 온도, 시간, 각 테스트의 일관성을 보장하기 위해 비교 분석 및 검증 테스트가 쉽습니다.
온도 보호, 과부하 보호, 누설 보호, 단락 보호 및 기타 안전 조치를 통해 안전을 보장합니다.
다양한 크기와 모델은 다양한 크기와 양의 샘플 요구를 충족시킵니다. 열 챔버는 온도 변화 속도를 변경하는 추가 습도 기능과 같은 사용자 정의 할 수 있습니다.
마이크로 컴퓨터 제어 시스템은 테스트 자동화를 달성하고, 온도 사이클 번호, 상승 및 냉각 속도 및 작동 인터페이스의 다른 매개 변수를 설정하여 테스트를 자동으로 완료 할 수 있습니다.
A. 전자 및 전기 분야
IPC 표준: PCB 보드 25 ℃의 유리 전송 포인트 온도 (Tg) 값보다 낮아야하는 PCB 온도 사이클의 최대 온도에 대한 요구 사항이 있습니다. PCBA의 온도 변동성은 15 ℃/min에 도달해야합니다.
AECQ-104 표준: 이 표준에 따르면, TC3(40 ° C ←→ 125 ° C) 또는 TC4(-55 ° C ←→ 125 ° C) 자동차의 엔진 룸의 사용 환경을 충족시키는 데 사용됩니다.
JDEC 51 표준: 11 개 표준은 다양한 환경 조건에서 전자 부품 패키지의 열 측정을 구체적으로 다룹니다.
B. 배터리 필드
UL 1642: 70 ° C ~ 20 ° C ~-40 ° C (30 분 변환) 와 같은 리튬 배터리의 온도 사이클 테스트 조건을 지정합니다.
IEC 62133: 75 ° C ~ 20 ° C (30 분 변환) 와 같은 배터리의 온도주기 테스트에 대한 명확한 요구 사항이 있습니다.
SAE J2464: 70 ° C ~-40 ° C (15 분 변환) 와 같은 배터리의 열 충격 테스트 조건을 지정합니다.
C. 항공 우주 분야
MIL-STD-1540: 항공 우주 부품에 대한 열 사이클, 열 충격 및 기타 관련 테스트 요구 사항을 지정합니다.
MIL-STD-750: 반도체 장치의 온도 사이클링, 열 충격 등에 대한 테스트 방법 및 조건이 규제됩니다.
EIA-364-32: 전자 커넥터와 같은 부품에 대한 열 충격 테스트 요구 사항을 지정합니다.
D. 태양 광 분야
IEC 61215: 태양 전지는 고온 및 습도 및 후속 영하의 온도 등의 영향을 견딜 수 있는지 확인하기 위해 열 순환 테스트 등을 받아야합니다.
IEC 61646: 열 사이클링을 포함한 박막 태양 전지의 테스트를 조절하여 제품 품질과 신뢰성을 보장합니다.
IEC 62108: 태양 전지를 농축하기 위한 열주기 및 기타 테스트 요구 사항을 지정합니다.
1. 열 챔버는 온도 변화를 정확하게 제어하고 다양한 온도 조건에서 제품의 성능을 테스트하는 데 사용되는 다른 고온 및 저온 환경을 시뮬레이션 할 수 있습니다.
2. 제품의 신뢰성과 안정성을 평가하는 데 도움이되는 실제 사용에서 발생할 수있는 온도 사이클 또는 온도 충격 환경을 시뮬레이션합니다.
3. 급격한 온도 변화를 통해 열 챔버는 재료 성능 저하, 부품 손상 등과 같은 제품의 노화 과정을 가속화 할 수 있습니다.
4. 열 챔버는 제품의 기계적 구조 및 재료 강도를 테스트하기 위해 제품에 급격한 온도 변화로 인한 열 응력을 적용 할 수 있습니다.
1. 온도 범위 및 변경 속도 사용자 정의:다른 온도 범위는 테스트 샘플의 요구 사항에 따라 사용자 정의 할 수 있습니다. 분당 몇 도에서 수십 도의 온도 변화 속도.
작업실 크기
2. 크기 사용자 정의:크기가 다른 샘플을 수용하기 위해 내부 작업실 크기를 사용자 정의 할 수 있습니다. 대형 자동차 부품을 수용 할 수있는 큰 공간만큼 큰 마이크로 칩을 담을 수있는 작은 챔버만큼 작습니다.
3. 습도 기능 사용자 정의:다양한 습한 환경을 시뮬레이션하기 위해 20% 90% RH와 같은 특정 습도 범위를 사용자 정의하십시오.
4. 샘플 홀더 사용자 정의:특수 샘플 홀더는 샘플 중에 고르게 가열되거나 냉각 될 수 있도록 샘플의 모양과 크기에 따라 사용자 정의 할 수 있습니다.
시안 LIB 산업은 전문 환경 챔버 제조업체 중 독특한 브랜드로 돋보입니다. 생산, 디자인 및 판매와 관련하여 시장에서 선도적 인 위치를 차지합니다. LIB는 특정 요구 사항을 충족하기 위해 적합한 환경 챔버 및 맞춤형 솔루션을 제공하는 데 전념합니다. 표준 및 맞춤형 모델 모두 귀하의 처분에 있습니다.
생산은 정확하게 설계된 매개 변수와 일치하여 배열됩니다. 테스트 챔버가 완료되면 성능 테스트, 기능 검사, 시운전 테스트 및 교정을 포함한 일련의 포괄적 인 테스트가 수행됩니다. 최고 품질 표준을 보장하기 위해 각 단계에 대해 자세한 보고서가 생성됩니다.
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