JESD22-A104 시험 조건 완벽 지원
LIB Industry 온도 사이클 챔버는 JESD22-A104에 명시된 온도 프로파일을 완벽하게 지원하도록 설계되어, 사용자가 제품 요구사항에 따라 다양한 시험 조건을 쉽게 전환할 수 있습니다. JESD22-A104 조건 A~M을 지원합니다.
조건 |
저온 |
고온 |
일반 응용 분야 |
A |
-55°C (+0/-10°C) |
+85°C (+10/-0°C) |
소비자 전자제품, 상용 등급 IC |
B |
-55°C (+0/-10°C) |
+125°C (+10/-0°C) |
산업용 부품, 일반 자동차 전자장치 |
C |
-65°C (+0/-10°C) |
+150°C (+10/-0°C) |
항공우주, 군용, 고신뢰성 반도체 소자 |
G |
-40°C (+0/-10°C) |
+125°C (+10/-0°C) |
자동차 전자장치 (AEC-Q100 / AEC-Q200) |
H |
-55°C (+0/-10°C) |
+175°C (+10/-0°C) |
고온 전력 반도체 및 첨단 전자 소자 |
온도 사이클 챔버는 램프 속도, 유지 시간, 사이클 횟수를 사용자 정의할 수 있는 프로그래밍 가능한 온도 사이클 프로파일을 지원합니다. 시험 매개변수는 시편 질량, 열 부하, 인증 목표에 따라 JESD22-A104 요구사항을 충족하도록 구성할 수 있습니다.
JESD22-A104 시험에 LIB Industry를 선택해야 하는 이유?
넓은 온도 범위
사용 가능한 온도 범위:
정밀 온도 제어
신뢰할 수 있는 연속 운전
반도체 인증 프로그램은 종종 수주간의 시험을 필요로 합니다.
LIB 챔버의 특징:
프로그래밍 가능한 열 프로파일
터치스크린 컨트롤러를 통해 사용자는 다음과 같은 맞춤형 열 사이클 프로파일을 생성할 수 있습니다:
램프 속도 제어
유지 시간 제어
사이클 카운팅
자동 운전
데이터 기록
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스테인리스 스틸 시험 작업실
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효율적인 냉동 시스템
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밀폐형 케이블 접속 포트
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균일한 공기 순환 시스템
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JESD22-A104 온도 사이클 챔버 사양
모델 |
TR5-100 |
TR5-225 |
TR5-500 |
TR5-800 |
TR5-1000 |
내부 치수 (mm) |
400*500*500 |
500*600*750 |
700*800*900 |
800*1000*1000 |
1000*1000*1000 |
외형 치수 (mm) |
900*1050*1620 |
1000*1140*1870 |
1200*1340*2020 |
1300*1540*2120 |
1500*1540*2140 |
내부 용적 |
100L |
225L |
500L |
800L |
1000L |
열 부하 |
1000W |
|
온도 범위
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A: -20℃ ~ +150 ℃
B: -40℃ ~ +150 ℃
C: -70℃ ~ +150 ℃
|
온도 변동 |
± 0.5 ℃ |
온도 편차 |
± 2.0 ℃ |
냉각 속도 |
10℃/min (15℃/min) |
가열 속도 |
10℃/min (15℃/min) |
컨트롤러 |
프로그래밍 가능한 컬러 LCD 터치스크린 컨트롤러, 다국어 인터페이스, 이더넷, USB |
냉동 시스템 |
기계식 압축 냉동 시스템 |
외장 재질 |
보호 코팅 강판 |
내장 재질 |
SUS304 스테인리스 스틸 |
전원 |
380V |
최대 소음 |
65 dBA |
JESD22-A104 온도 사이클 적용 분야
JESD22-A104 온도 사이클 시험은 반복적인 열 응력 하에서 제품 신뢰성을 평가하기 위해 반도체, 자동차, 전자 산업 전반에 널리 사용됩니다.
반도체 소자
BGA, QFN, CSP, IC 패키지
자동차 전자장치
ECU, ADAS, 센서, BMS
전력전자
IGBT, MOSFET, SiC 소자, 전력 변환기
전자 시스템
PCB 어셈블리, 통신 장비, 산업용 및 소비자 전자제품
모든 LIB 시험 장비는3년 보증 및 평생 기술 서비스의 지원을 받으며, 장기적인 신뢰성과 글로벌 애프터 서비스 지원을 보장합니다.
JESD22-A104 또는열충격 시험 요구사항에 적합한 구성을 위해 LIB Industry에 문의하십시오..