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JESD22-A104 온도 사이클 챔버

반도체 신뢰성 시험용 JESD22-A104 온도 사이클 챔버

LIB IndustryJESD22-A104 온도 사이클 챔버반도체 소자, 전자 부품, PCB 어셈블리, 자동차 전장품의 신뢰성 시험을 위해 설계되었습니다. 온도 사이클 챔버는 반복적인 열 스트레스를 모사하여 제품이 시장에 출시되기 전에 솔더 접합부 피로, 패키지 균열, 박리 및 기타 고장 모드를 드러냅니다.

✔ JESD22-A104 조건 A~M을 100% 준수
✔ 온도 변화율 최대 10°C/min ~ 15°C/min
✔ 온도 변동 ≤ ±0.5°C
✔ 온도 균일도 ≤ ±2.0°C
✔ 온도 범위 -70°C ~ +150°C

JESD22-A104, AEC-Q100, IEC 60068-2-14 시험 요구사항을 지원하는 LIB 챔버는 반도체 인증 및 신뢰성 검증을 위해 정확하고 반복 가능한 온도 사이클을 제공합니다.


표준 모델: TR5-100, TR5-225, TR5-500, TR5-800, TR5-1000 및 다양한 맞춤형 모델.

JEDEC JESD22-A104 신뢰성 테스트용 LIB Industry 온도 사이클 챔버


JESD22-A104 시험 조건 완벽 지원

LIB Industry 온도 사이클 챔버는 JESD22-A104에 명시된 온도 프로파일을 완벽하게 지원하도록 설계되어, 사용자가 제품 요구사항에 따라 다양한 시험 조건을 쉽게 전환할 수 있습니다. JESD22-A104 조건 A~M을 지원합니다.

조건

저온

고온

일반 응용 분야

A

-55°C (+0/-10°C)

+85°C (+10/-0°C)

소비자 전자제품, 상용 등급 IC

B

-55°C (+0/-10°C)

+125°C (+10/-0°C)

산업용 부품, 일반 자동차 전자장치

C

-65°C (+0/-10°C)

+150°C (+10/-0°C)

항공우주, 군용, 고신뢰성 반도체 소자

G

-40°C (+0/-10°C)

+125°C (+10/-0°C)

자동차 전자장치 (AEC-Q100 / AEC-Q200)

H

-55°C (+0/-10°C)

+175°C (+10/-0°C)

고온 전력 반도체 및 첨단 전자 소자

온도 사이클 챔버는 램프 속도, 유지 시간, 사이클 횟수를 사용자 정의할 수 있는 프로그래밍 가능한 온도 사이클 프로파일을 지원합니다. 시험 매개변수는 시편 질량, 열 부하, 인증 목표에 따라 JESD22-A104 요구사항을 충족하도록 구성할 수 있습니다.


JESD22-A104 시험에 LIB Industry를 선택해야 하는 이유?

넓은 온도 범위

사용 가능한 온도 범위:

  • -20°C ~ +150°C

  • -40°C ~ +150°C

  • -70°C ~ +150°C 모든 JESD22-A104 시험 조건에 적합합니다.

정밀 온도 제어

  • 온도 변동: ±0.5°C

  • 온도 편차: ±2.0°C

  • 균일한 기류 분배로 장시간 시험 동안 모든 샘플이 동일한 열 응력을 받도록 보장합니다.

신뢰할 수 있는 연속 운전

반도체 인증 프로그램은 종종 수주간의 시험을 필요로 합니다.

LIB 챔버의 특징:

  • SUS304 스테인리스 스틸 작업 공간

  • 산업용 냉동 시스템

  • 긴 수명의 순환 팬

  • 연속 운전 기능: 중단 없이 장기간 신뢰성 시험이 가능하도록 설계되었습니다.

프로그래밍 가능한 열 프로파일

터치스크린 컨트롤러를 통해 사용자는 다음과 같은 맞춤형 열 사이클 프로파일을 생성할 수 있습니다:

  • 램프 속도 제어

  • 유지 시간 제어

  • 사이클 카운팅

  • 자동 운전

  • 데이터 기록

temperature_cycle_chamber6_-_副本.jpg

스테인리스 스틸 시험 작업실

temperature_cycle_chamber8_-_副本.jpg

효율적인 냉동 시스템

temperature_cycle_chamber_-_副本.jpg

밀폐형 케이블 접속 포트

temperature_cycle_chamber9_-_副本.jpg

균일한 공기 순환 시스템


JESD22-A104 온도 사이클 챔버 사양

모델

TR5-100

TR5-225

TR5-500

TR5-800

TR5-1000

내부 치수 (mm)

400*500*500

500*600*750

700*800*900

800*1000*1000

1000*1000*1000

외형 치수 (mm)

900*1050*1620

1000*1140*1870

1200*1340*2020

1300*1540*2120

1500*1540*2140

내부 용적

100L

225L

500L

800L

1000L

열 부하

1000W

 

온도 범위

A: -20℃ ~ +150 ℃

B: -40℃ ~ +150 ℃

C: -70℃ ~ +150 ℃

온도 변동

± 0.5 ℃

온도 편차

± 2.0 ℃

냉각 속도

10℃/min (15℃/min)

가열 속도

10℃/min (15℃/min)

컨트롤러

프로그래밍 가능한 컬러 LCD 터치스크린 컨트롤러, 다국어 인터페이스, 이더넷, USB

냉동 시스템

기계식 압축 냉동 시스템

외장 재질

보호 코팅 강판

내장 재질

SUS304 스테인리스 스틸

전원

380V

최대 소음

65 dBA


JESD22-A104 온도 사이클 적용 분야

JESD22-A104 온도 사이클 시험은 반복적인 열 응력 하에서 제품 신뢰성을 평가하기 위해 반도체, 자동차, 전자 산업 전반에 널리 사용됩니다.

반도체 소자

BGA, QFN, CSP, IC 패키지

자동차 전자장치

ECU, ADAS, 센서, BMS

전력전자

IGBT, MOSFET, SiC 소자, 전력 변환기

전자 시스템

PCB 어셈블리, 통신 장비, 산업용 및 소비자 전자제품

모든 LIB 시험 장비는3년 보증 및 평생 기술 서비스의 지원을 받으며, 장기적인 신뢰성과 글로벌 애프터 서비스 지원을 보장합니다.

JESD22-A104 또는열충격 시험 요구사항에 적합한 구성을 위해 LIB Industry에 문의하십시오..

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No.6 Zhangba First Street, High-Tech Area, Xi'an City, Shanxi Province, P.R. China 710065
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